成果・アーカイブ Archive


    2020年度

2021年3月25日 初級/中級コース(第4回)をKEK-PFで実施しました。 
  今回はイメージングをテーマとして、講義と実験実習を1日で行いました。午前中に放射光分析の全般、X線吸収・位相イメージング、X線トポグラフィについての講義が行われ、午後はBL-14CとBL-20Bでビームライン実習が行われました。
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2021年3月2-3日 初級/中級コース(第3回)をKEK-PFで実施しました。 
  今回はXAFSをテーマとして、コロナ感染症拡大防止のためにオンラインで行われました。1日目は講義と解析実習、2日目はPF BL-12Cでのビームラインの実験操作の講義が行われました。
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    2019年度

2019年11月18-19日 初級/中級コース(第2回)をKEK-PFで実施しました。 
  今回はX線回折をテーマに、1日目午後から座学、2日目はPFにてビームライン実習が行われました。BL-8Bでは、粉末X線回折法による典型的な無機物材料の測定、及びデータ解析について指導していただきました。
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2019年10月30-31日 初級/中級コース(第1回)をKEK-PFで実施しました。 
  文科省事業として行ってきたNanotechCUPALは2018年度で終了し、2019年度からは加速器科学支援事業の支援を受けつつ、自主事業として3年間継続することになりました。今回はX線小角散乱をテーマに、1日目午後から座学、2日目はPFにてビームライン実習が行われました。BL-6Aでは、小角X線散乱法による典型的な高分子材料の測定、及びデータ解析について指導していただきました。
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  平成30年度(2018年度)

2019年3月7-8日 第8回入門コース研修会をKEK-PFで実施しました。 
  今回はXAFSをテーマに、1日目(KEKつくばキャンパス4号館)の午前は座学、午後は解析演習、2日目はPFにてビームライン実習が行われました。BL-9Aでは、蛍光XAFS実習(半導体検出器を用いた蛍光測定について、検出器の原理から説明)、BL-9Cでは、in situ XAFS実習(高温・ガス雰囲気における金属酸化物の酸化還元反応を時分解測定(Q-XAFS)により観察)について指導していただきました。
  第8回XAFS研修会プログラムはこちらから 

   


2018年6月12-14日 第7回入門コース研修会をKEK-PFで実施しました。 
  今回はX線イメージングをテーマに、1日目は座学、2日目・3日目はビームライン実習が行われました。BL-14Cでは、講師の兵藤一行准教授(KEK物構研)より、X線CTに関する光学系の調整や各種試料の撮影、CTデータの収集などについて、またBL-20Bでは、講師の杉山弘助教(KEK物構研)により、X線トポグラフィに関する光学系の調整や原子核乾板を使った半導体sicの格子欠陥の撮影等について指導していただきました。
  第7回X線イメージング研修会プログラムはこちらから 

   


2018年6月1日 第3回N.R.P.育成対象者成果発表会が秋葉原UDXで開催されました。

                               



  平成29年度(2017年度)

2017年12月12-14日 第6回入門コース研修会をKEK-PFで実施しました。 
  今回は粉末X線回折をテーマに、1日目は座学、2日目・3日目はBL-8Aにて実習が行われました。講師の佐賀山基准教授(KEK物構研)より、スピネル型遷移金属酸化物を例に試料準備や粉末試料測定実習、リートベルト法による粉末構造解析について指導して頂きました。 
  第6回粉末X線回折研修会プログラムはこちらから 


   

2017年5月22日 第2回N.R.P.育成対象者成果発表会が東京理科大 森戸記念館(神楽坂)で開催されました。

                               


2017年4月19-21日 第5回入門コース研修会をKEK-PFで実施しました。
  今回はX線小角散乱をテーマに、1日目は座学、2日目・3日目はBL-6Aにて実習が行われました。講師の清水伸隆准教授(KEK物構研)より、高分子テスト試料を用いた透過法や斜入射法によるX線小角散乱測定解析について指導して頂きました。
  第5回X線小角散乱研修会プログラムはこちらから


   


 平成28年度(2016年度)

2016年12月14-15日 第4回入門コースの実習をKEKフォトンファクトリーで実施しました。
  今回はイメージングをテーマに、講師の平野准教授(KEK物構研)より、BL-14BにてX線トポグラフィーについて、また兵藤准教授(KEK物構研)より、BL-14Cにて単色X線CTについて実習が行われました。
  第4回イメージング実習プログラムはこちらから 
                                 

                 

                               
 2016年8月31日 第4回入門コースの講習をつくば国際会議場で実施しました。

                               


2016年6月2-3日 第3回入門コースの実習をKEKフォトンファクトリーで実施しました。
  今回はX線吸収微細構造(XAFS)をテーマに、1日目はXAFS測定方法の説明、Athena、Artemisによる解析方法など、2日目はBL-9A、9C、12Cにて透過法、蛍光法、表面・バルク同時測定(転換電子収量法)、in situ測定等の実習が行われました。
  第3回XAFS実習プログラムはこちらから
 

                

2016年5月31日 第1回NRP育成対象者成果発表会が大手町日経ビルにて行なわれました。 
  

                              



 平成27年度(2015年度)

2016年3月1日  第3回入門コースの講習をつくば国際会議場で実施しました。
    

                              

2016年1月29日  Nanotech CUPAL 交流会が東京ビックサイト近郊にて行われました。 
  

                              

2015年11月19-20日 第2回入門コースの実習をKEKフォトンファクトリーで実施しました。
  今回は粉末X線回折(XRD)をテーマに、粉末試料の作成方法、装置のセットアップと実験、RIETANを用いたリートベルト解析などの講習が BL-8Bにて行なわれました。
講師の佐賀山准教授(KEK物構研)から、粉末試料の粒径をそろえるコツやリートベルト解析のコツなどについて、熱心に指導して頂きました。 
  第2回粉末X線回折実習プログラムはこちらから
 

            

2015年8月31日  第2回入門コースの講習をつくば国際会議場で実施しました。
  

                              

2015年6月1-2日 第1回入門コースの実習をKEKフォトンファクトリーで実施しました。
  今回は小角散乱をテーマに装置校正、操作法、実験手順、サンプル評価、解析のコツ、などの講習がBL-10Cにて行われました。参加者からは講師の清水伸隆准教授(KEK物構研)に向けて熱心な質問がよせられていました。
  第1回小角散乱実習プログラムはこちらから

   



    

 平成26年度(2014年度)           

2015年2月26日  第1回入門コースの講習をつくば国際会議場で実施しました。