放射光分析上級コース［中長期型］

放射光を用いた分析は、物質の構造解析に威力を発揮し、材料や医療・バイオ等の先端的な研究開発には不可欠のものです。本コースはその放射光分析の代表的な手法であるX線吸収微細構造（XAFS）分析、X線回折、イメージング、小角散乱等の実技の習熟を目指す上級コースです。放射光分析初級/中級コースの履修者もしくは放射光分析の経験者を対象とします。 研修期間の目処はKEKの放射光施設（フォトンファクトリー）の運転期間を含む12週間程度（週2日程度×12週間＝24日程度）です。第一線の研究者による指導のもと、理論的側面と共に実験操作から評価解析の一連の工程をOJT的に履修し、深い習得を目指します。なお、受講者の要望に応じて XAFS、X 線回折、イメージング、小角散乱等のメニューから分析手法を選択可能とし、研修の時期や期間についても相談に応じます。 なお、本コースの中段で正規の利用方法に沿った課題申請（Ｔ型等）を行なっていただき、自ら放射光実験を行うことを計画します。最終的には、受講者自らが自律的に放射光分析を計画・実施できるレベルに到達することを目標とします。